用X線衍射線形分析測定晶粒尺寸及微畸變的傅立葉級數合成方法

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用X線衍射線形分析測定晶粒尺寸及微畸變的傅立葉級數合成方法

李華瑞, 孟慶恩, 邸秀萱

文章導航 > 工程科學學報 > 1985 > 7(1): 66-72

李華瑞, 孟慶恩, 邸秀萱. 用X線衍射線形分析測定晶粒尺寸及微畸變的傅立葉級數合成方法[J]. 工程科學學報, 1985, 7(1): 66-72. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1985.01.020

引用本文:

李華瑞, 孟慶恩, 邸秀萱. 用X線衍射線形分析測定晶粒尺寸及微畸變的傅立葉級數合成方法[J]. 工程科學學報, 1985, 7(1): 66-72. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1985.01.020

Li Huarui, Meng Qingen, Di Xiuxuan. A Fourier Synthesis Method of X-Ray Diffraction Profile Analysis for Determination of Grain Size and Microdistortion[J]. Chinese Journal of Engineering, 1985, 7(1): 66-72. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1985.01.020

Citation:

Li Huarui, Meng Qingen, Di Xiuxuan. A Fourier Synthesis Method of X-Ray Diffraction Profile Analysis for Determination of Grain Size and Microdistortion[J]. Chinese Journal of Engineering, 1985, 7(1): 66-72. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1985.01.020

李華瑞, 孟慶恩, 邸秀萱. 用X線衍射線形分析測定晶粒尺寸及微畸變的傅立葉級數合成方法[J]. 工程科學學報, 1985, 7(1): 66-72. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1985.01.020

引用本文:

李華瑞, 孟慶恩, 邸秀萱. 用X線衍射線形分析測定晶粒尺寸及微畸變的傅立葉級數合成方法[J]. 工程科學學報, 1985, 7(1): 66-72. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1985.01.020

Li Huarui, Meng Qingen, Di Xiuxuan. A Fourier Synthesis Method of X-Ray Diffraction Profile Analysis for Determination of Grain Size and Microdistortion[J]. Chinese Journal of Engineering, 1985, 7(1): 66-72. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1985.01.020

Citation:

Li Huarui, Meng Qingen, Di Xiuxuan. A Fourier Synthesis Method of X-Ray Diffraction Profile Analysis for Determination of Grain Size and Microdistortion[J]. Chinese Journal of Engineering, 1985, 7(1): 66-72. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1985.01.020

用X線衍射線形分析測定晶粒尺寸及微畸變的傅立葉級數合成方法

doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1985.01.020

1. 北京鋼鐵學院;
2. 北京鋼鐵研究總院;
3. 北京有色金屬研究總院

計量
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- HTML全文瀏覽量: 76
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- 被引次數: 0
出版歷程
- 網絡出版日期: 2021-10-29

A Fourier Synthesis Method of X-Ray Diffraction Profile Analysis for Determination of Grain Size and Microdistortion

摘要: 本文提出了一個采用傅立葉級數合成方法分析X射線衍射線形來確定金屬多晶體中晶塊尺寸及微畸變的方法。與現存的其它方法相比較,這一方法所做的假設是最少的。

Abstract: This article put forward a Fourier synthesis method of X-ray diffraction profile analysis for determination of grain size and microdistor-tion. Comparing with the, other existing methods, the hypotheses applied in this method is minimum.

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